LeTID (Lightand elevated Temperature Induced Degradation)，業界稱為“光照和高溫誘導衰減”，或者叫“光熱衰減”。名稱有些拗口，但是值得大家花些時間去了解它，因為它會極大地影響你的太陽能組件和電站發電性能。
光伏行業對LID(Light Induced Degradation)，也就是“光致衰減”現象已經很了解。通常情況下，只要光伏組件暴露在陽光下就會發生LID(光致衰減)，在短時間(幾天或幾周)內就能達到飽和的衰減。行業對于LID(光致衰減)的研究也已經非常充分，產生機制也獲得一致認可，主要是硅材料內的硼氧缺陷。因為晶體生長方法的差異，單晶硅材料內間隙氧含量遠高于多晶，從而LID衰減也遠高于多晶。兩到三年前PERC技術的推廣還受限于LID(光致衰減)，隨著抗LID衰減技術的突破使LID得到比較有效的控制，加之設備的廣泛應用，PERC技術得以大規模導入。
然而LeTID衰減機制不同，它通常發生在光照和高溫(> 50°C)兩個條件同時滿足的情況下，并且LeTID對于PERC組件的發電量影響很大。PERC組件在實驗室的測試條件和電站實際工作環境中都存在LeTID(光熱衰減)現象。在組件工作溫度超過50°C時，不論是單晶還是多晶PERC組件都會發生LeTID(光熱衰減)，衰減率最高可達10%。
因此，購買PERC太陽能組件時，無論單晶還是多晶，先了解制造商對LeTID的重視和了解程度。同時可以問問他們如何控制和解決LeTID問題，并請他們向您展示一些可信的第三方測試報告。幾年后你將會為此感到慶幸。
